復雜曲面工件的相控陣超聲檢測(多浦樂柔性相控陣探頭)


多浦樂獨立自主研發的柔性相控陣探頭,陣列晶片可隨工件表面形狀任意彎曲,進行進行復雜曲率工件檢測,探頭厚度僅3mm,可伸入狹窄空間進行檢測。

 

本案例可選相控陣儀器:


多浦樂Phascan相控陣檢測儀:16/64,32/64,32/128,32/128PR

 

本案例可選柔性相控陣探頭:


產品型號

頻率MHz

陣元數

陣元中心距離mm

有效孔徑mm

陣元長度mm

外形尺寸

外殼型號

長L

寬W

高H

mm

mm

mm

5S32-0.5*10

5

32

0.5

16

10

86

35

3

S1

7.5S64-0.5*10

7.5

64

0.5

32

10

86

35

3

S1









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